分立器件測試系統 QT-4100

QT-4100分立器件測試系統，適用于三極管、二極管、齊納二極管、MOS-FET（IGBT、SIC 氮化鎵）、J-FET、Current Sense FET、LDO（78XX、79XX、TL431、TL432常規測試）、光電耦合器等產品及晶圓。 可擴展：可控硅測試、SCANBOX、Dual Gate-FET、Q Plus 、三極管開關時間（TST， TR ，TF， TON）、熱阻測試（DVDS， DVCE， DVBE，DVF）等。